Descripción
El NaniteAFM tiene un escáner de punta, dos cámaras de video de inspección y un motor de aproximación incorporado en un espacio excepcionalmente reducido. La cámara de vista superior integrada ofrece una visión perfecta de la superficie en un ángulo de 45º para localizar las áreas de interés en la muestra y posicionarlas bajo el voladizo. Posee una resolución lateral de 2 un y guía al usuario durante la aproximación rápida inicial a unas pocas decenas de micrómetros de la muestra antes de que el AFM se haga cargo de la aproximación automática final.
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Equipo de difracción de rayos X (SAXS/WAXS), Nano-inXider
Nano-inXider, de Xenocs es un avanzado instrumento diseñado para la caracterización de nanomateriales mediante técnicas SAXS y WAXS, ideal para laboratorios con espacio limitado. Su diseño compacto y el rayo en posición vertical lo hacen accesible para usuarios nuevos en estas técnicas. Equipado con un detector dual, permite obtener información a escala atómica y de nanoestructura simultáneamente. Es adecuado para analizar sólidos, líquidos, geles, polvos y películas finas, abordando aplicaciones diversas como nanopartículas, polímeros, estructuras biológicas y más. El modelo Xeuss, más completo y flexible, incluye módulos adicionales como Q-Xoom y Bonse-Hart USAXS, ofreciendo alta precisión y versatilidad en la caracterización de nanoestructuras.
