Un paso por delante en FIB-SEM – el nuevo microscopio de TESCAN
Nos anticipamos al futuro ampliando las posibilidades del presente.
Alava Ingenieros junto con nuestro socio TESCAN se complace en anunciar el lanzamiento del primer miembro de una nueva familia de microscopios, un microscopio electrónico de barrido con doble haz FIB-SEM que incrementa la calidad y rendimiento de aplicaciones FIB-SEM de gama alta como pueden ser la preparación de muestras y microanálisis.
Este nuevo microscopio tiene todo lo que se necesita para satisfacer las demandas de la investigación de hoy en el mundo académico y la industria. Logra imágenes de alta resolución y está equipado con un robusto sistema de detección en haz con capacidades de selección de ángulos y de filtrado de energía. Este equipo permite resolver las características de sus muestras con tamaño nano, ya sean orgánicas, inorgánicas, conductoras, no conductoras, magnéticas o no magnéticas. Además, este sistema de doble haz presenta una nueva columna FIB, la nueva generación de columnas de Ga FIB con garantía de calidad excepcional para la preparación de muestras con el mayor rendimiento.
No hace falta añadir nada más, los resultados hablan por sí mismos. Por eso te queremos presentar este nuevo microscopio invitándote a unirse a un seminario web, el próximo día 10 de Julio, en el que los expertos de Tescan presentarán en detalle todas las características y, lo que es más importante, demostrarán lo que este equipo es capaz de hacer. Participa y descubre cómo funciona este instrumento complejo pero fácil de aprender y que se adapta a tus necesidades analíticas particulares. Nuestro equipo de expertos estará encantado de responder a todas las preguntas que pueda tener.
No dude en inscribirse al seminario web: Un paso por delante en FIB-SEM – el nuevo microscopio de TESCAN
Día: 10de Julio
Hora: Dos turnos o a las 9:00 CEST o a las 17:00 CEST
Duración: 15 min
* La inscripción la realizará en la página web de TESCAN
