Descripción
Escaneo plano y lineal gracias a la tecnología de escáner por flexión
Versatilidad de medición con las capacidades de escaneo del FlexAFM en líquido y una multitud de modos de medición
El concepto de plataforma flexible permite ampliar el sistema para satisfacer diferentes requisitos
Compatible con microscopios invertidos
Flexibilidad total con soportes en voladizo intercambiables que han sido optimizados para tareas especializadas para soportar todo tipo de aplicaciones diferentes
Otros productos que te podrían interesar
Equipo de difracción de rayos X (SAXS/WAXS), XEUSS
La caracterización de nanomateriales mediante técnicas no intrusivas SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) y WAXS (Wide-Angle X-ray Scattering) es fundamental para comprender su estructura interna, morfología (tamaño y forma de partículas), estados de agregación y otras propiedades a escala nanométrica. De la mano de nuestro socio Xenocs proporcionamos soluciones para la caracterización de nanoestructuras utilizando técnica de dispersión de rayos X de ángulo pequeño y gran angular (SAXS y WAXS respectivamente). Los equipos permiten trabajar en la investigación, desarrollo y producción de materiales avanzados. Desde su creación en el año 2000, Xenocs ha consolidado una sólida reputación por su experiencia en tecnología de rayos X, sus soluciones actuales se basan en componentes y tecnologías clave que son fruto de más de 14 años de investigación y desarrollo en la empresa.
