Descripción
Integra un escáner de punta guiada por flexión, una plataforma de muestra XYZ, una cámara, una mesa de aislamiento de vibración activa y una protección contra el flujo de aire en una unidad. La electrónica de última generación con ADC y DAC de 24 bits permite la conducción XYZ de alta resolución del escáner de 100 µm × 100 µm × 12 µm y permite la detección de fuerzas de bajo ruido. Además, la funcionalidad del sistema base CoreAFM se puede ampliar con una amplia gama de complementos.
Otros productos que te podrían interesar
Equipo de difracción de rayos X (SAXS/WAXS), Nano-inXider
Nano-inXider, de Xenocs es un avanzado instrumento diseñado para la caracterización de nanomateriales mediante técnicas SAXS y WAXS, ideal para laboratorios con espacio limitado. Su diseño compacto y el rayo en posición vertical lo hacen accesible para usuarios nuevos en estas técnicas. Equipado con un detector dual, permite obtener información a escala atómica y de nanoestructura simultáneamente. Es adecuado para analizar sólidos, líquidos, geles, polvos y películas finas, abordando aplicaciones diversas como nanopartículas, polímeros, estructuras biológicas y más. El modelo Xeuss, más completo y flexible, incluye módulos adicionales como Q-Xoom y Bonse-Hart USAXS, ofreciendo alta precisión y versatilidad en la caracterización de nanoestructuras.
