Descripción
El NaniteAFM tiene un escáner de punta, dos cámaras de video de inspección y un motor de aproximación incorporado en un espacio excepcionalmente reducido. La cámara de vista superior integrada ofrece una visión perfecta de la superficie en un ángulo de 45º para localizar las áreas de interés en la muestra y posicionarlas bajo el voladizo. Posee una resolución lateral de 2 un y guía al usuario durante la aproximación rápida inicial a unas pocas decenas de micrómetros de la muestra antes de que el AFM se haga cargo de la aproximación automática final.
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Equipo de difracción de rayos X (SAXS/WAXS), XEUSS
La caracterización de nanomateriales mediante técnicas no intrusivas SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) y WAXS (Wide-Angle X-ray Scattering) es fundamental para comprender su estructura interna, morfología (tamaño y forma de partículas), estados de agregación y otras propiedades a escala nanométrica. De la mano de nuestro socio Xenocs proporcionamos soluciones para la caracterización de nanoestructuras utilizando técnica de dispersión de rayos X de ángulo pequeño y gran angular (SAXS y WAXS respectivamente). Los equipos permiten trabajar en la investigación, desarrollo y producción de materiales avanzados. Desde su creación en el año 2000, Xenocs ha consolidado una sólida reputación por su experiencia en tecnología de rayos X, sus soluciones actuales se basan en componentes y tecnologías clave que son fruto de más de 14 años de investigación y desarrollo en la empresa.