Equipo de difracción de rayos X (SAXS/WAXS), Nano-inXider

Nano-inXider es un instrumento de última generación desarrollado por Xenocs, diseñado específicamente para la caracterización de nanomateriales utilizando técnicas de dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS) y gran angular (WAXS). Esta herramienta ofrece una solución integral para investigadores y profesionales que buscan obtener una comprensión detallada de la estructura y propiedades de los materiales a escala nanométrica.

Características del Nano-inXider

1. Diseño Compacto y Versátil:
   • A diferencia del modelo XEUSS, Nano-inXider tiene un diseño más compacto y el rayo está en posición vertical en lugar de horizontal. Esta solución es ideal para laboratorios con espacio limitado y para aquellos que se introducen por primera vez en la técnica de dispersión de rayos X.
   • Dispone de un detector dual que permite obtener información a escala atómica y de nanoestructura de forma simultánea, en una sola exposición de la muestra.
2. Aplicaciones Versátiles:
   • Nano-inXider es adecuado para muestras sólidas, líquidas, geles, polvos o películas finas. Las medidas más comunes para las que se utilizan incluyen:
     • Rango de distribución del tamaño de partícula.
     • Rangos de cristalización y estructura laminar de polímeros semicristalinos.
     • Análisis de tamaño y forma de tensioactivos o proteínas y otras macromoléculas en soluciones.
     • Organización y orientación de nanomateriales a escalas atómicas y nano.
     • Fase de segregación de aleaciones.
     • Otros parámetros cuánticos como número de partículas, masa molecular, concentración, etc.
3. Software XSACT: proporcionando una plataforma de análisis robusta y flexible.

Aplicaciones de la Caracterización de Nanoestructuras

La caracterización de nanoestructuras con Nano-inXider es muy común en una gran diversidad de aplicaciones, incluyendo:

• Nanopartículas y coloides.
• Estructuras biológicas.
• Polímeros.
• Aceites y gases.
• Ciencia de la alimentación.
• Cosmética.
• Energías renovables.
• Materiales inorgánicos.

Modelo Xeuss

La última versión de Xeuss, el modelo más completo de Xenocs, permite tomar medidas a niveles de nano escala de una forma flexible y con alta precisión a través de técnicas no destructivas como SAXS/WAXS, Ultra SAXS o GI-SAXS/WAXS (Grazing Incidence). Las medidas más comunes con este equipo incluyen:

• Rango de distribución del tamaño de partícula.
• Rangos de cristalización y estructura laminar de polímeros semicristalinos.
• Análisis de tamaño y forma de tensioactivos o proteínas y otras macromoléculas en soluciones.
• Organización y orientación de nanomateriales a escalas atómicas y nano.
• Fase de segregación de aleaciones.
• Otros parámetros cuánticos como número de partículas, masa molecular, concentración, etc.

Flexibilidad y Módulos Adicionales del Xeuss

La flexibilidad del equipo Xeuss puede ampliarse añadiendo algunos módulos, tales como:

• Sistema Q-Xoom: permite cambiar la resolución de medida mediante un detector motorizado con un recorrido dentro de la cámara de vacío desde 1 a 4 metros.
• Módulo Q-Xtend: opcional, diseñado para el análisis de parámetros estructurales de grandes dimensiones, normalmente desde 100 nm hasta 1 μm o más.
• Módulo Bonse-Hart USAXS: opcional, permite medir partículas hasta 2.5 micras o superiores, junto con información a nano escala y atómica.
• Cambio de Radiación de Energía: hasta 3 fuentes pueden ser integradas (Cu, Mo, Cr).
• Módulo de Imagen de Rayos X InXight: permite un cambio automático entre las imágenes y las medidas de dispersión de rayos X para obtener información desde Å hasta mm.
• Módulo Auxiliar de Rayo AuX: fuente adicional de rayos X que aplica un rayo monocromático enfocado en la muestra.

Este equipo trabaja con el software XSACT, proporcionando una plataforma de análisis robusta y flexible.