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S neox

Es la tercera  generación del cabezal sensor con doble tecnología, que combina técnicas interferométricas y confocales y variación de foco.

Descripción

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    La caracterización de nanomateriales mediante técnicas no intrusivas SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) y WAXS (Wide-Angle X-ray Scattering) es fundamental para comprender su estructura interna, morfología (tamaño y forma de partículas), estados de agregación y otras propiedades a escala nanométrica. De la mano de nuestro socio Xenocs proporcionamos soluciones para la caracterización de nanoestructuras utilizando técnica de dispersión de rayos X de ángulo pequeño y gran angular (SAXS y WAXS respectivamente). Los equipos permiten trabajar en la investigación, desarrollo y producción de materiales avanzados. Desde su creación en el año 2000, Xenocs ha consolidado una sólida reputación por su experiencia en tecnología de rayos X, sus soluciones actuales se basan en componentes y tecnologías clave que son fruto de más de 14 años de investigación y desarrollo en la empresa.